老化测试仪是实验室设备,使用高功率光源和水来模拟长期的外部暴露。紫外线(UV)光的波长的光对人眼不可见的太阳,油漆,塑料和混凝土饰面造成长期的损害。水,包括雨水和海洋海水,可攻可完成,并降低他们。在老化可以创建紫外线,室内,或其他的光的频率,在受控条件下测试产品包括水喷雾添加进一步的环境影响。
老化测试仪可做二种测试:老化与耐黄变。
老化:本机可促进加硫橡胶之劣化,以计算加热前后拉力及伸长之变化率,一般认为在70 ℃下测试一天,理论上相当于暴露在大气中6个月的时间。
耐黄:本机是模拟大气环境中,受阳光紫外线照射,外观变化一般认为在50℃下测试9小时,理论上相当于暴露在大气中6个月的时间
JIS-P8127、ASTM D1148
内箱尺寸:50×50×60cm
温控范围:常温~200℃。(可调)
控制方式:自动演算控制器
温度显示:0.1℃
控制精度:±3℃
分布精度:±1℃(at-100℃)
时间记忆:0-999小时hours,停电记忆型、含蜂鸣器
转盘转速:¢45cm、10±2 转/分钟
UV光源:UV300W灯泡(德国欧司朗)
标准配件:棚板2片
加热方式:热风循环
安全保护:超温断电指示灯、安全超载开关电流表
制造材质:内部SUS#304不锈钢板,外部烤漆
外型尺寸:(L×W×H) 114×94×130 cm
重量:140 kg
电源:1∮,AC220V, 15A
在线留言询价
型号 | 品牌 | 询价 |
---|---|---|
TL431ACLPR | Texas Instruments | |
MC33074DR2G | onsemi | |
RB751G-40T2R | ROHM Semiconductor | |
CDZVT2R20B | ROHM Semiconductor | |
BD71847AMWV-E2 | ROHM Semiconductor |
型号 | 品牌 | 抢购 |
---|---|---|
BU33JA2MNVX-CTL | ROHM Semiconductor | |
ESR03EZPJ151 | ROHM Semiconductor | |
BP3621 | ROHM Semiconductor | |
IPZ40N04S5L4R8ATMA1 | Infineon Technologies | |
TPS63050YFFR | Texas Instruments | |
STM32F429IGT6 | STMicroelectronics |
AMEYA360公众号二维码
识别二维码,即可关注