蔡司的光学测量解决方案,可以快速、轻松地进行复杂的测量。凭借高度自动化和最先进的传感器,它们可以减少操作错误并保证高测量精度。
ZEISS O-INSPECT复合式测量机能够通过光学或接触式测量获取每一项特征,且符合ISO-10360验收标准。
产品特点:
视野范围大,提供良好的图像质量
快速精准的3D接触式测量
敏感表面的光学测量
在更短的时间内提高可靠性
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型号 | 品牌 | 询价 |
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RB751G-40T2R | ROHM Semiconductor | |
BD71847AMWV-E2 | ROHM Semiconductor | |
CDZVT2R20B | ROHM Semiconductor | |
MC33074DR2G | onsemi | |
TL431ACLPR | Texas Instruments |
型号 | 品牌 | 抢购 |
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IPZ40N04S5L4R8ATMA1 | Infineon Technologies | |
BU33JA2MNVX-CTL | ROHM Semiconductor | |
BP3621 | ROHM Semiconductor | |
STM32F429IGT6 | STMicroelectronics | |
ESR03EZPJ151 | ROHM Semiconductor | |
TPS63050YFFR | Texas Instruments |
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