蔡司推出O-DETECT光学测量系统。可使用蔡司的光学测量解决方案,可以快速、轻松地进行复杂的测量。凭借高度自动化和最先进的传感器,它们可以减少操作错误并保证高测量精度,可提供各种光学测量系统。
直观的操作、高质量的相机和灵活的照明,瞬间实现精准测量。适用于各类不同部件,尤其是那些不适宜触碰的部件。使用蔡司O-DETECT,探索新一代光学测量技术。
产品优势:
出色的光学元件
应用广泛,易于升级
部件导航简单,且可视化
稳定的精度
软件界面直观,易于使用
专业和可指导行动的报告
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RB751G-40T2R | ROHM Semiconductor | |
BD71847AMWV-E2 | ROHM Semiconductor | |
TL431ACLPR | Texas Instruments | |
MC33074DR2G | onsemi | |
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BU33JA2MNVX-CTL | ROHM Semiconductor | |
ESR03EZPJ151 | ROHM Semiconductor | |
STM32F429IGT6 | STMicroelectronics | |
TPS63050YFFR | Texas Instruments | |
IPZ40N04S5L4R8ATMA1 | Infineon Technologies | |
BP3621 | ROHM Semiconductor |
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