利用蔡司的工业计算机断层扫描系统,仅需一次 X 射线扫描,即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台,满足客户对精确性的高要求。
产品特点:
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扫描更快
应用范围:
测量与检验整体部件
轻松且精准地进行多样化特征检测
全面的3D CT数据分析
DAkkS校准认证,信心更强
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型号 | 品牌 | 询价 |
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TL431ACLPR | Texas Instruments | |
CDZVT2R20B | ROHM Semiconductor | |
MC33074DR2G | onsemi | |
RB751G-40T2R | ROHM Semiconductor | |
BD71847AMWV-E2 | ROHM Semiconductor |
型号 | 品牌 | 抢购 |
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STM32F429IGT6 | STMicroelectronics | |
BU33JA2MNVX-CTL | ROHM Semiconductor | |
TPS63050YFFR | Texas Instruments | |
ESR03EZPJ151 | ROHM Semiconductor | |
BP3621 | ROHM Semiconductor | |
IPZ40N04S5L4R8ATMA1 | Infineon Technologies |
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