上海雷卯:什么是汽车抛负载Load dump

发布时间:2024-03-01 11:31
作者:AMEYA360
来源:上海雷卯
阅读量:3189

  1.什么是抛负载

  抛负载,英文为Load dump,是指断开电源与负载的瞬间,由于负载突变而引起电源电压急剧变化。在汽车电子领域,抛负载是指在蓄电池充电时,断开发电机与蓄电池的连接而引起发电机输出大电压尖峰,从而使得其它连接到发电机电源的设备受到破坏的威胁。

  汽车抛负载有单抛和双抛之分,仅切断发电机为负载单抛;仅切断蓄电池为蓄电池单抛;同时切断发电机和蓄电池称为双抛。由于汽车运行过程的高可靠性,ISO组织制定的抛负载试验,必然有其内在的合理性。抛负载试验是非常严酷的破坏性试验。

  2. 什么是抛负载7637-5A/5B

  汽车抛负载,主要是受最大电压、内阻和持续时间等三方面因素影响,如何控制这三者之间的综合影响就是我们汽车抛负载保护的关键。

  规定12V电气系统和24V电气系统的道路车辆沿电源线的电传导骚扰及其抗扰度的试验等级和测量方法。其中脉冲波形5A和5B两种标准测试是最具破坏性测试试验,也是最难通过的测试标准。

  7637-5A标准是未经抑制的波形,7637-5B是发电机前端有电压抑制的波形,具体见下面的波形图,在内阻相同的情况下,波形面积的大小也体现了能量的大小。

上海雷卯:什么是汽车抛负载Load dump

  上海雷卯有自己的实验室,可以帮助客户做抛负载摸底测试,下图是上海雷卯在帮客户做5B 测试

上海雷卯:什么是汽车抛负载Load dump

  3.7637-5A/5B的能量抑制设计方案

  在5A的情况下,测试脉冲提供了最坏的情况。在12V的情况下,规定其Us的区间为79伏到101伏,而内阻的范围为0.5欧到4欧,浪涌电压作用时间为40ms到400ms。如果做了抛负载保护以后,在规定脉冲之下经过了10次相关测试,那么就证明这个保护是合格的。

  上海雷卯是电磁兼容方案设计和器件制造商,我们针对此项测试验证了多种方案,逐一为大家提供各种方案,工程师可以自行选择。

  4. 结构简单的TVS保护方案

  上海雷卯推出结构简单抛负载保护方案,只要一颗TVS

上海雷卯:什么是汽车抛负载Load dump

  (1)针对7637-5A 保护方案

上海雷卯:什么是汽车抛负载Load dump

  (2)针对7637-5B 保护方案

  很多汽车自带限位器,可以保证输出浪涌不超过5B设定值,进一步降低了抛负载的风险,对于这样的要求,我们可以选用便宜的方案,比如上海雷卯的SM5S24CA系列车用TVS和6.6SMDJ24CA。

上海雷卯:什么是汽车抛负载Load dump

  5. DC-DC有什么设计考虑?

  由于TVS本身特性,箝位电压和工作电压会有区间,所以12V系统DCDC耐压选择40V, 24V系统DCDC耐压选择60V,如果有需要低箝位电压的TVS,上海雷卯有专用的低箝位TVS物料。

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2026-04-22 09:48 阅读量:441
上海雷卯丨器件级ESD vs系统级 ESD—— 硬件工程师必懂
  很多硬件工程师把HBM/CDM当成系统抗ESD 依据,导致整机过不了IEC 61000-4-2、现场死机、返修率高。  本文一次性讲清:本质区别、失效风险、选型规则、设计步骤。  简单来说,两者的关注点截然不同:  器件级ESD保护:关注的是芯片在制造、组装环节的“存活率”。  系统级ESD保护:关注的是整机设备在用户实际使用中的“生存能力”。  它们在测试标准、方法和防护目标上有着天壤之别。  核心一句话(必须背下来)  器件级 ESD(HBM/MM/CDM):保芯片生产不死  系统级 ESD(IEC 61000-4-2):保整机使用不挂  两者不能互相替代!集成电路(IC)在其生命周期的任何阶段——从器件装配、PCB焊接到最终测试——都可能遭受静电放电(ESD)损伤。为了在生产过程中“活下来”,所有IC内部都集成了专门的ESD保护结构。  为了模拟和评估这些制造环节的ESD风险,业界主要采用三种器件级模型:  1、人体模型(HBM):模拟人体携带静电后接触IC引发的放电事件。  2、机器模型(MM):模拟自动化生产设备等金属物体接触IC引发的放电事件。  3、带电器件模型(CDM):模拟IC自身因摩擦等原因带电后,引脚接触导体时发生的快速放电事件。  这些模型都适用于受控的工厂环境。在这样的环境下,从装配到PCB焊接的每一步都需要严格的静电控制,以将IC承受的ESD应力降到最低。典型的IC能承受2kV的HBM应力,但随着器件尺寸不断微缩,部分小型器件的耐受电压已降至500V。  系统级ESD:考验整机的“实战测试”  虽然器件级模型在工厂里很管用,但它完全不足以应对真实世界。终端用户环境中的ESD事件,其电压和电流强度都远超制造环境。  因此,业界采用国际标准IEC 61000-4-2定义的系统级ESD测试,来模拟真实使用条件下用户可能遇到的ESD冲击。这个测试的对象是完整的成品设备,目的是评估它在“实战”中的抗干扰能力。  一句话概括:器件级测试(HBM、MM、CDM)的核心是保障IC在制造过程中的可靠性;而系统级测试(IEC 61000-4-2)的目标是评估成品设备在实际使用环境中抵抗ESD事件的能力。  以下是详细的对比表格:维度器件级ESD (HBM, MM, CDM)保护系统级ESD(IEC 61000-4-2)保护核心目标保护芯片在制造、封装、运输、贴片过程中免受静电损伤。保护成品设备在用户日常使用中(如触摸、插拔、摩擦)免受静电放电干扰或损坏。测试对象独立的、未上电的芯片(IC)已组装完成的、通常处于上电工作状态的整机或系统。测试模型1. HBM (人体模型)2. CDM (充电器件模型)3. MM (机器模型,已较少使用)IEC 61000-4-2 标准模型(包含接触放电和空气放电)测试波形HBM:上升时间 25ns,脉冲宽度~150ns;CDM:上升时间 <400ps, 脉冲宽度 ~1ns;MM :脉冲宽度 ~80ns     上升时间 0.7-1ns,第一个峰值电流极高(如8kV接触放电时达30A以上),脉冲总宽度约150ns典型电压等级HBM:(500V-2000V)CDM: (250-2000V)MM:   (100-200V)       接触放电:±4kV, ±6kV, ±8kV空气放电:±8kV, ±15kV (最高可达±30kV)施加2 kV电压时的峰值电流(APK)HBM:1.33ACDM: 5A                               7.5A电压冲击次数HBM:2CDM:2MM:   2       20防护策略芯片内部集成 ESD钳位结构板级应用:1. TVS二极管(最常用)2. 压敏电阻、气体放电管3. RC吸收电路、铁氧体磁珠4. 屏蔽、接地、绝缘设计成本和面积占用芯片面积,增加工艺复杂度,但无额外BOM成本。增加PCB面积和物料成本,但设计灵活,可针对高风险接口重点防护。典型应用场景裸片、封装好的芯片(在托盘/卷带中)。手机、笔记本电脑、汽车电子、工业控制接口(USB, HDMI, RS232等)。  为什么不能混用?(几个致命原因)  1. 电流和能量差异  器件级:2kV HBM测试的峰值电流约1.33A。能量相对较小。  系统级:2kV IEC接触放电的峰值电流约7.5A。能量比器件级高,5倍能量。如果用器件级防护(如芯片内部结构)去抗系统级静电,瞬间就会烧毁。  2. 失效模式差异  器件级:主要是物理损伤(烧熔、击穿)。测完如果参数正常,芯片就是好的。  系统级:除了物理损伤,更头痛的是逻辑混乱。高速静电脉冲会耦合到内部总线、时钟线、复位线,导致CPU误触发、寄存器翻转、锁死。即使没有任何元件烧坏,设备也可能死机或重启。  3. 电压尖峰上升时间差异  器件级:HBM的规定上升时间为25ns。  系统级:IEC模型的上升时间<1ns,其在最初3ns消耗掉大部分能量。如果HBM额定的器件需25ns来做出响应,则在其保护电路激活以前器件就已被损坏。  4.电击次数不同  两种模型在测试期间所用的电击次数不同。  HBM仅要求测试一次正电击和一次负电击。  IEC模型却要求10次正电击和10次负电击。可能出现的情况是,器件能够承受第一次电击,但由于初次电击带来的损坏仍然存在,其会在后续电击中失效。  图1显示了CDM、HBM和IEC模型的ESD波形举例。很明显,相比所有器件级模型的脉冲,IEC模型的脉冲携带了更多的能量。  (图1) 器件级和IEC模型的ESD波形  常见误区澄清  1.误区:“芯片引脚标注了±8kV HBM,所以直接接USB口没问题”  这是最常见且危害最大的误区。根据技术文献的对比数据:  即使电压数值相同(如8kV),IEC标准的峰值电流也是HBM的5倍以上。此外,IEC标准的放电上升时间小于1ns(HBM为25ns),能量更集中、破坏性更强。因此芯片内部的HBM防护结构完全无法承受IEC标准的ESD脉冲。  2.误区:“系统级测试通过,说明芯片本身ESD很强”  系统级ESD测试的对象是完整的成品设备(含外壳、PCB、TVS、屏蔽层等),而不是裸芯片。系统级测试通过,可能得益于以下因素的共同作用:  (1)PCB板级TVS管的分流  (2)外壳的屏蔽和绝缘设计  (3)接地路径的优化  (4)多层板布局的寄生效应  因此,系统级测试通过不能直接推导出芯片本身的ESD鲁棒性高。实际上,HBM/CDM测试才是评估芯片自身抗ESD能力的标准方法。  3. 误区:“器件级HBM Class 3A (4000V) 比 Class 2 (2000V) 好在系统中更可靠”  HBM等级与系统级可靠性之间的相关性很低。根据权威研究结论:  (1)HBM与IEC 61000-4-2之间不存在直接相关性  (2)CDM与IEC 61000-4-2之间也不存在直接相关性  (3)系统级ESD性能更多取决于板级防护设计(TVS选型、布局、接地),而非芯片自身的HBM等级  不过需要补充一点:虽然相关性低,但HBM等级过低的芯片(如<500V)在制造和组装阶段就容易受损,这会间接影响系统可靠性。因此,不能完全忽视器件级ESD等级,只是不应将其作为系统级可靠性的预测指标。  设计建议  1、芯片选型时:关注芯片引脚说明中的 IEC 61000-4-2 等级(若有),这代表该引脚内置了系统级防护。对于普通引脚,只关注HBM/CDM即可。  2、板级设计时:  对外接口(USB、音频、按键、SIM卡、天线触点)必须加系统级TVS。  TVS的钳位电压应低于被保护芯片的绝对最大额定值。  TVS应紧靠接口或紧靠被保护芯片,走线尽量短、直,减小寄生电感。  3、测试顺序:建议先完成器件级ESD测试(在芯片未贴板前),再贴板进行系统级IEC测试。如果器件级已损坏,系统级测试会失败得更惨烈。  总结一句:最终总结(工程师极简版)  器件级ESD = 保生产  系统级ESD = 保现场  芯片内部ESD ≠ 系统防护  接口不加TVS,IEC 一定挂  永远不要用HBM 去硬扛 IEC 静电枪!
2026-04-17 09:39 阅读量:456
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