蔡司在30多年前就推出了第一台扫描系统,这一创举彻底改变了测量技术的发展趋势。从那时起,我们不断提高测量技术和测量方法。随着主动扫描和VAST navigator 领航者技术以及 FlyScan飞翔扫描等应用,蔡司确立了其坐标测量技术创新领航者的地位。
接触式扫描的发明者
1974年,蔡司首次在精密测量实验室的坐标测量中采用了扫描的方法。随着1995年VAST测头的问世,该项技术随即成为工业和车间测量的标准。就经验和技术而言,没有其他任何坐标测量机制造商可望其项背。在全球范围内,已安装的扫描系统中,大约 75%来自蔡司。
连续扫描不同于接触式测针系统的单点测量,可连续探测工件表面,从而迅速捕获大量有特征的测量点。大量的科学研究表明,一个特征的不确定性和测量点的数量之间存在一个明显联系。
独特的蔡司技术:主动式扫描
大多数扫描系统为被动式设计。其测力由一个弹性平行四边形生成。由于被动测头的控制范围小,不断变化的测力会对它们造成不同的影响,从而导致测针发生较大的弯曲并导致大的探测误差。这样当轮廓曲率增大时,精度就会降低。相反地,蔡司采用主动扫描测头,例如蔡司的VAST XT gold测头连续测量测针挠度。主动在材料的法线方向施加一个恒定低电子测力。例如,测针沿桥架加速的方向移动。从而排除了测力的影响。由于可以保持小的恒定测力。则使测量结果更加精准。
ZEISS VAST navigator — 更高级别的主动扫描
ZEISS VAST navigator 领航者技术充分利用主动扫描技术潜力。其关键要素是自动生成测量方法:系统自动根据测量工件公差要求,在实现所需精度的前提下,以尽可能快的速度进行测量。测量机的加速和减速都独立进行。
切向高速扫描
实现从探测路径至探测过程中的连续运动,无需遵循中间停止和机动的常规方法。根据不同的作业要求,在同一质量等级上,相对于量规测量误差,此方法可节约15-65分钟。
螺旋扫描
由于采用智能测量方法,VAST navigator 领航者技术可以在短时间内对圆柱体进行精准测量。不同于标准的扫描方法,这个过程使用连续涡旋线扫描圆柱,在测量运行过程中,可以产生高精度,可重复性和良好的测量结果。
FlyScan — 扫描中断的轮廓
FlyScan减少了多任务的编程和测量工作量,包括:
钻孔扫描
齿轮扫描
中断的平面扫描
FlyScan是您可以在中断的轮廓上继续进行扫描。在过去测量一个法兰盘,需要16个扫描路径来测量被钻孔中断的平面表面。而应用FlyScan则仅需1个路径。
在线留言询价
型号 | 品牌 | 询价 |
---|---|---|
MC33074DR2G | onsemi | |
BD71847AMWV-E2 | ROHM Semiconductor | |
TL431ACLPR | Texas Instruments | |
CDZVT2R20B | ROHM Semiconductor | |
RB751G-40T2R | ROHM Semiconductor |
型号 | 品牌 | 抢购 |
---|---|---|
BP3621 | ROHM Semiconductor | |
TPS63050YFFR | Texas Instruments | |
BU33JA2MNVX-CTL | ROHM Semiconductor | |
IPZ40N04S5L4R8ATMA1 | Infineon Technologies | |
ESR03EZPJ151 | ROHM Semiconductor | |
STM32F429IGT6 | STMicroelectronics |
AMEYA360公众号二维码
识别二维码,即可关注